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動電位和循環(huán)動電位掃描

點(diǎn)擊次數(shù)：4180 更新時(shí)間：2020-04-01

介紹

動電位掃和循環(huán)動電位掃描是利用Gamry電化學(xué)工作站進(jìn)行的常用的測試方法。這些研究通常用于研究表面腐蝕。本篇應(yīng)用報(bào)告介紹了這兩種實(shí)驗(yàn)方法。有關(guān)基礎(chǔ)知識，請參考我們的應(yīng)用報(bào)告“電化學(xué)腐蝕測量入門”。ASTM G59標(biāo)準(zhǔn)討論了動電位掃描，ASTM G61標(biāo)準(zhǔn)討論了循環(huán)動電位掃描。

動電位掃描方法

在這種類型的掃描中，電壓驅(qū)動陽極或陰極的反應(yīng)。我們觀察到的是反應(yīng)速度（電流）的總體變化。也就是，恒電位儀記錄施加在測試體系上不斷增加的電壓產(chǎn)生的電流。在總的陽極電流等于總的陰極電流時(shí)的電位就是開路電位（Eoc）。（如圖一所示）

corrosion process

圖1 顯示總電流陰、陽極枝的腐蝕過程

電位在一定范圍內(nèi)進(jìn)行掃描，同時(shí)記錄電流。對于陽極掃描，研究者常常從比較小的陰極極化范圍（略小于開路電位）開始掃描，對于陰極掃描，從比較小的陽極極化范圍（略大于開路電位）開始掃描。

循環(huán)動電位掃描方法

循環(huán)動電位掃描類似于動電位掃描，只是多了一步：電壓在一定范圍掃描后，再反向掃描至初始電位。掃描過程中，由于發(fā)生反應(yīng)，電極表面很有可能改變，因此電壓反掃的數(shù)據(jù)不會與正向掃描重疊。

掃描參數(shù)

ASTM中建議掃描速率是0.1667mV/s。掃速過快通常會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真，因?yàn)闃悠繁砻娌荒鼙３窒鄬Ψ€(wěn)定。

數(shù)據(jù)

具有代表性的動電位掃描結(jié)果如圖2所示。

potentiodynamic scan

圖2 430不銹鋼合金在1mol/L H₂SO₄中的動電位掃描曲線

自變量（電位）繪制在縱軸上，因變量（電流）繪制在橫軸上。

這種對不銹鋼樣品在硫酸中的掃描可以解釋為：

potentials currents regions

圖3 圖2中用顏色表示的各種重要電壓，電流和區(qū)域

當(dāng)電壓從-550mV慢慢增加，電流在陰極區(qū)（紫色）下降至Ecorr小處，然后在金屬發(fā)生氧化的活化區(qū)域（綠色）再次上升。在鈍化電位Epp時(shí)達(dá)到大值。電流在過渡區(qū)（黃色）再次下降，然后在鈍化區(qū)（粉色區(qū)）較低部分保持相對穩(wěn)定，電位高于600mV時(shí)，表面擊穿會導(dǎo)致樣品表面產(chǎn)生點(diǎn)蝕或溶解。

注意Ecorr附近區(qū)域，該區(qū)域類似圖1中的理想狀態(tài)。

Gamry電化學(xué)工作站足夠靈敏，能夠檢測到p*以下的電流，如圖4所示。

potentiodynamic sweep